قسم الهاردوير مناقشة كل ما تعلق بمجال Hardware وعتاد الحاسب الآلي

أدوات الموضوع

الصورة الرمزية TARIQ_ALKDR
TARIQ_ALKDR
:: عضو ذهبي ::
تاريخ التسجيل: Apr 2008
الدولة: Syria
المشاركات: 972
نشاط [ TARIQ_ALKDR ]
قوة السمعة:111
قديم 12-03-2009, 04:25 AM المشاركة 1   
افتراضي هل من مخترع يحل المشكلة ؟ Twitter FaceBook Google+



السلام عليكم ورحمة الله وبركاته

وانا اتصفح الموضوع الجديد للاستاذ أحمد احبائى الان لابد من تغير الشيب

خطرت بالبال فكرة وهي :

هل من الممكن ان نخترع طريقة نتأكد من صلاحية الشيب قبل لحامة ؟

1- عن طريقة قياس السالب الموجب بعد فكة أو قياس البفات قبل فكة

2- ممكن نصنع دارة للفحص

3- ممكن نعمل سوكت زي LGA نلحمة مكان الشيب على مذر نخليها تستر مذر ( أكيد في عدة اصدارات )

دعوة للخبراء والمخترعين

نرجو التفاعل وعدم التطنييييييييييييييش

اعلانات

الصورة الرمزية محمود العراقى
محمود العراقى
:: مهندس متواجد ::
تاريخ التسجيل: Jan 2009
المشاركات: 191
نشاط [ محمود العراقى ]
قوة السمعة:0
قديم 12-03-2009, 03:54 PM المشاركة 2   
افتراضي


الاخ العزيز ncc_tariq78 هذة فكرة رائعة وعلى فكرة انا فكرت فيها كتير وقلت لية الشركة المصنعة للمازر بورد معملتش دة وزى ما عملت للبروسيسور سوكيت لية معملتش للشب وكان من الممكن فكة وتركيبة بسهولة جدا
وعملت تجارب كتير منها انى جبت سوكيت LGA وحاولت اصغرة بحيث يكون غلى قد الشب ولكن دون جدوووووووووووووووووووووووووووووووووووى

اعلانات اضافية ( قم بتسجيل الدخول لاخفائها )
  

الصورة الرمزية م/محمود ادريس
م/محمود ادريس
:: عضو ذهبي ::
تاريخ التسجيل: Aug 2008
الدولة: www.Matrix219.com
المشاركات: 695
نشاط [ م/محمود ادريس ]
قوة السمعة:99
قديم 12-03-2009, 06:03 PM المشاركة 3   
افتراضي


السلام عليكم ورحمة الله وبركاته

وانا اتصفح الموضوع الجديد للاستاذ أحمد احبائى الان لابد من تغير الشيب

خطرت بالبال فكرة وهي :

هل من الممكن ان نخترع طريقة نتأكد من صلاحية الشيب قبل لحامة ؟

1- عن طريقة قياس السالب الموجب بعد فكة أو قياس البفات قبل فكة

2- ممكن نصنع دارة للفحص

3- ممكن نعمل سوكت زي LGA نلحمة مكان الشيب على مذر نخليها تستر مذر ( أكيد في عدة اصدارات )

دعوة للخبراء والمخترعين

نرجو التفاعل وعدم التطنييييييييييييييش

الموضوع ده كبير...
لكن ماعتقدش امكانية تصنيع دائرة فحص بامكانياتنا المحدودة...

ممكن نعتمد علي قياس بعض ال PINS في التشيب لاختبار وجود شورت سيركت في الدائرة...
والبعض الاخر لاختبار وجود اوبن سيركت... لكن جهاز فحص.
ماعتقدش.
حيتوصل علي ايه ؟؟؟
ولو التشيب حيتوصل بيه. يبقي لازم يكون عندك جهاز لل NIVIDIA واخر لل INTEL واخر لل VIA واخر لل SIS .... وخلافه....

اعتقدها فكره في حكم المستحيل بامكانياتنا البدائية جدآ...
ده احنا لسه بنتكلم ونقنع في الناس بالتغيير.... مابلك بمكانية الاختبار. والتكلفة حتبقي ايه....

وفي انتظار متابعة بقية اراء الزملاء.


إضافة رد

العلامات المرجعية

«     الموضوع السابق       الموضوع التالي    »
أدوات الموضوع

الانتقال السريع إلى


الساعة معتمدة بتوقيت جرينتش +3 الساعة الآن: 12:16 AM
موقع القرية الالكترونية غير مسؤول عن أي اتفاق تجاري أو تعاوني بين الأعضاء
فعلى كل شخص تحمل مسئولية نفسه إتجاه مايقوم به من بيع وشراء وإتفاق وأعطاء معلومات موقعه
التعليقات المنشورة لا تعبر عن رأي موقع القرية الالكترونية ولايتحمل الموقع أي مسؤولية قانونية حيال ذلك (ويتحمل كاتبها مسؤولية النشر)

Powered by vBulletin® Version 3.8.6, Copyright ©2000 - 2025